A kutatócsoport tevékenységét projektszerűen végzi. Külső megrendelések, vagy a csoporton belül felvetődő kutatási témához szerzett anyagok vizsgálatát, az ehhez kapcsolódó méréseket, kísérleteket elkülönített egységben, de mégis alapvetően a kutatócsoport más projektjeiben is hasznosíthatóan, összevethetően kezeli.

Egy-egy vizsgálati projektet (megbízás, vizsgálat és/vagy kísérletsorozat) mindig a csoport egyik tagja vezeti, egyben ő felelős a projekt időbeni és megfelelő minőségű elvégzéséért is. A projektekbe, amennyiben a projektfelelős kívánatosnak tartja külső szakember (analitikus, szakértő, régész, stb.), illetve egyetemi hallgató bevonható, amelyről viszont a projektfelelős a kutatócsoport vezetőjét értesíti, illetve vele erről konzultál.

Az eseti projekteket érintő megbeszéléstől függetlenül a kutatócsoport havi rendszerességgel, valamennyi tag részvételével (!) ülésezik, ahol az elmúlt időszak kiértékeléséről, jövőbeni tervekről, projektlehetőségekről, stratégiai kérdésekről esik szó.

A csoport egységes arculatot öltve működik, saját honlapot üzemeltet. Tagjai törekednek minél több, a kutatócsapat tevékenységéhez köthető publikáció megjelentetésére, különféle szakmai fórumokon előadások megtartására, amelyek természetesen az adott projekten dolgozók neve alatt vannak jegyezve, de lehetőség szerint bennük a kutatócsoport is említésre kerül. A csoport minden évben beszámol munkájáról a Miskolci Egyetem releváns kiadványaiban.

A kutatócsoport folyamatosan használja a ME Műszaki Anyagtudományi Karán működő az országos NEKIFUT regiszterben Stratégiai kutatási Infrastruktúra besorolású Komplex Képelemző és Szerkezetvizsgáló Laboratórium (LISA) infrastruktúráját és a Műszaki Földtudományi Kar Ásvány- és Közettani Tanszék infrastruktúráját (MFK-AFI). Az alábbiakban bemutatásra kerül az ARGUM által használt berendezések, illetve zárójelben az egyes mérések fajlagos átlagos díjai. Megjegyzendő, hogy a konkrét díjak természetesen a vizsgálandó tárgyak jellegének, illetve a vizsgálati körülmények függvényében módosulhatnak.

LISA:
Röntgen diffrakciós laboratórium:Bruker D8 Advance röntgendiffrakciós berendezés Euler bölcsővel, monocap fókuszálási lehetőséggel, Co röntgencsővel valamint Stresstech gyártmányú, XStress 3000 G3R központ nélküli feszültségmérő röntgendiffraktométer

• Minőségi és mennyiségi fáziselemzés, textúra vizsgálat.
• Nemfémes zárványok és intermetallikus fázisok azonosítása.
• Alakítottság kimutatása, akár kis felületeken is.
• Korabeli alakítási, öntési technológia definiálása
• technológiai maradó feszültség vizsgálata

Pásztázó elektronmikroszkópos laboratórium:energiadiszperzív röntgen-mikroszondával és EBSD detektorral felszerelt Zeiss EVO MA10 és Amray 1830 I pásztázó elektronmikroszkópok

• Nagy felbontású mikroszkópi felvételek.
• Mikroszerkezet jellemzése, alakítási nyomok, jelleg azonosítása.
• Gyors átlagos és lokáli összetétel elemzés.
• Dúsulások elemzése
• Kristálytani orientáció meghatározása.

Nagyfelbontású szerkezetvizsgáló mikroszkópia:HITACHI SEM EDS szondával, Philips TEM EDS szondával, Raman spektroszkópia, AFM:

• Nagyfelbontású fázis és elemazonosítás, elemtérképezés, mikroorientáció.

Optikai mikroszkópos laboratórium:Zeiss optikai mikroszkópok (Stereo Discovery, AxioImager, AxioVert), 8x-1000x nagyítás tartomány, Instron Wolpert mikrokeménység-mérő, 2g-20kg terhelőerővel.

• korrelatív mikroszkópia
• keménységtraverz

Műszaki Anyagtudományi Kar- GDOS labor:HJY GD-OES Profiler 2 emissziós spektrofotométer

• Különböző bázisú fémötvözetek összetételének meghatározására
• Fémbevonatok vastagságának és összetételének meghatározására fém szubsztráton.
• Többrétegű fémbevonat vastagságának és összetételének meghatározására.
• Műanyagbevonatok vastagságának és összetételének meghatározására fémeken.
• Fémek felületi szennyezettségének vizsgálatára (vastagság és összetétel).
• Passziváló bevonatok vizsgálatára.
• Korróziós rétegek összetételének, mélységprofiljának és vastagságának mérésére.
• Festett felületek festési vastagságának és a festék összetételének vizsgálatára.
• Különböző rétegek összetételének meghatározására a felülettől számított mélység függvényében.
• Különböző elemek eloszlásának mérésére a mélység függvényében.
• Fémes és nemfémes elemek koncentrációjának és eloszlásának meghatározására felületen.

MFK-AFI:
Röntgen diffrakciós laboratórium:Bruker D8 Advance diffraktométer, változtatható Bragg-Brentano és Göbel-tükör segítségével előállított párhuzamos nyaláb geometriával, Cu-sugárforrással

• párhuzamos nyalábbal, grazing-incidence Soller + szcintillációs pontdetektor: felületi bevonatok precíz elemzése
• parafókuszáló nyalábbal, diffraktált nyalábra hajlított grafit monokromátor + szcintillációs pontdetektor: precíz szerkezet meghatározás, tartalék geometria
• parafókuszáló nyalábbal, Vantec-1 helyzetérzékelő detektorral: rövid idejű precíz mérésekre, fázisazonosítás, mennyiségi kiértékelés
• párhuzamos nyalábbal, Vantec-1 helyzetérzékelő detektorral: rövid idejű precíz mérésekre, fázisazonosítás, mennyiségi kiértékelés, rövid idejű reakciók valós idejű megfigyelése, egyenetlen (akár dombor) felületek minőségi vizsgálata
• kristályos alkotók azonosítása és mennyiségi meghatározása
• részleges és teljes roncsolás mentes fázisazonosítás bármilyen szilárd minta felületén, 50x30x30 cm kiterjedésben.
• kristályos alkotók szerkezetének finomítása, hasonló komponensek azonosítása, megkülönböztetése

Gandolfi-kamerás mikrodiffrakciós laboratórium: Cu-sugárforrásra szerelt filmes Gandolfi-kamera, 10-100 mikrométeres szemcsék vizsgálatára, kvázi roncsolásmentes eljáráshoz, olyan anyagok, termékek vizsgálatára, amelyek nem oldhatók meg teljesen roncsolásmentes eljárással, de értékük miatt a mintavételezést a lehető legkisebb mennyiségre kell korlátozni.

Pásztázó elektronmikroszkópos laboratórium:1 db energiadiszperzív és 4 db hullámhosszdiszperzív röntgen-mikroszondával felszerelt Jeol 8600 JXA Superprobe,

• mikroszkópi felvételek, 3x4 cm felületű tárgyak vizsgálata
• mikroszerkezet jellemzése, alakítási nyomok, reakciók nyomainak azonosítása.
• Gyors átlagos és lokális összetétel elemzés, 0,01% kimutatási határral.

Optikai mikroszkópos laboratórium:1 db Zeiss EVO sztereomikroszkóp motoros automatizált fókusszal és nagyfelbontású videokamerával, akár előkép rögzítésére is

• felületi egyenetlenségek vizsgálata
• vizsgálati nyomok elemzése
• 3D kép összeállítása, egyenletességi térkép készítése
• képelemzés morfometriai és mennyiségi célokkal

Optikai mikroszkópos laboratórium:4 db áteső illetve reflexiós polarizációs kőzettani (metallográfiai) mikroszkóp

• átvilágított vékonycsiszolati preparátumok szövet-sezrkezeti vizsgálatára,
• opak anyagok szövet-szerkezeti vizsgálatára,
• komponensek azonosítására
• képelemzés morfometriai és mennyiségi célokkal